什么是晶体管？MOSFET特性关于MOSFET的寄生容量和温度特性关于MOSFET的开关及其温度特性关于MOSFET的V
GS(th)(界限値)I
D-V
GS特性和温度特性关于MOSFET的寄生容量和温度特性MOSFET的静电容量
功率MOSFET在构造上，如图1存在寄生容量。功率MOSFET在构造上，如图1存在寄生容量 MOSFET的G (栅极) 端子和其他的电极间由氧化膜绝缘，DS (漏极、源极) 间形成PN接合，成为内置二极管构造。Cgs, Cgd容量根据氧化膜的静电容量、Cds根据内置二极管的接合容量决定。
(相关资料图)
图1: MOSFET的容量模型一般而言MOSFET规格书上记载的是表1中的Ciss/Coss/Crss三类。
表1 MOSFET的容量特性| 记号 | 算式 | 含义 |
| Ciss | CgsCgd | 输入容量 |
| Coss | CdsCgd | 输出容量 |
| Crss | Cgd | 反馈容量 |
容量特性如图2所示，对DS (漏极、源极) 间电压VDS存在依赖性。VDS大则容量值小。
图2: 容量 - VDS依存性温度特性
实测例见图(1) ~ (3)所示关于容量特性的温度依存性几乎没有差异。
图3: 容量温度特性至产品详细网页
关于MOSFET的开关及其温度特性关于MOSFET的开关时间
栅极电压ON/OFF之后，MOSFET才ON/OFF。这个延迟时间为开关时间。开关时间如表1所示种类，一般而言，规格书上记载td(on)/ tr/ td(off)/ tf。
ROHM根据图2电路的测定值决定规格书的typ.值。
表1: MOSFET的SW特性| 记号 | 内容 |
| td(on) | 开启延迟时间(VGS10%→VDS90%) |
| tr | 上升时间(VDS90%→VDS10%) |
| td(off) | 关闭延迟时间(VGS90%→VDS10%) |
| tf | 下降时间(VDS10%→VDS90%) |
| ton | 开启时间 (td(on)tr) |
| toff | 关闭时间 (td(off)tf) |
温度特性
实测例如图3(1)~(4)所示。温度上升的同时开关时间略微增加，但是100°C上升时增加10%成左右，几乎没有开关特性的温度依存性。
图3: 开关温度特性至产品详细网页
关于MOSFET的V
GS(th)(界限値)关于MOSFET的V
GS(th)MOSFET开启时，GS (栅极、源极) 间需要的电压称为VGS(th)（界限值)。即输入界限值以上的电压时MOSFET为开启状态。那么MOSFET在开启状态时能通过多少A电流？针对每个元件，在规格书的电气特性栏里分别有记载。
表1为规格书的电气特性栏示例。该情况下，输入VDS=10V时，使1mA电流通过ID所需的栅极界限值电压ID(th)为1.0V to 2.5V。
表1: 规格书的电气特性栏至产品详细网页
I
D-V
GS特性和温度特性
ID-VGS特性和界限值温度特性的实测例如图1、2所示。如图1，为了通过绝大部分电流，需要比较大的栅极电压。表1所记载的机型，其规格书上的界限值为2.5V以下，但是为4V驱动产品。使用时请输入使其充分开启的栅极电压。
如图2，界限值随温度而下降。通过观察界限值电压变化，能够计算元件的通道温度。
图1: ID-VGS特性图2: 界限值温度特性MOSFET至产品详细网页
数字晶体管的原理导通电阻
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